Gaya APA

SALEH, E, R, M. et al (2013). Prediksi masa kadaluarsa wafer dengan artifical neural network (ANN) berdasarkan parameter nilai . Yogyakarta: Fak. Teknologi Pertanian UGM.

Gaya MLA

SALEH, Erna, Rusliana, Muhamad. et al. "Prediksi masa kadaluarsa wafer dengan artifical neural network (ANN) berdasarkan parameter nilai ". Yogyakarta: Fak. Teknologi Pertanian UGM, 2013. Artikel.