Ditapis dengan

  • Tahun Penerbitan
    To
  • Ketersediaan
  • Lampiran
  • Tipe Koleksi
    Lihat Lebih Banyak
  • Format Fisik Dokumen
    Lihat Lebih Banyak
  • Lokasi
    Lihat Lebih Banyak
  • Bahasa
    Lihat Lebih Banyak
Ditemukan 1 dari pencarian Anda melalui kata kunci: author=Huisman, Leendert M.
cover
Data Mining and Diagnosing IC Fails
Komentar Bagikan
Huisman, Leendert M.

Introduction -- Statistics -- Yield Statistics -- Area Dependence of the Yield -- Statistics of Embedded Object Fails -- Fail Commonalities -- Spatial Patterns -- Test Coverage and Test Fallout -- Logic Diagnosis -- Slat Based Diagnosis -- Data Collection Requirements -- Appendix A. Distribution of IC Fails -- Appendix B. General Yield Model -- Appendix C. Simplified Center-Satellite Model -- A…

Edisi
1st ed.
ISBN/ISSN
9780387263519
Deskripsi Fisik
XX, 250 p. 46 illus.online resource.
Judul Seri
-
No. Panggil
-