Detail Cantuman
Pencarian Spesifik
Artikel
Determination of Germanium Profile on Ion Implanted GaAs Using Secondary Ion Mass Spectrometry
- Bagikan:
Jurnal Transistor Vol. 6 No 2 Desember 2006 ( Rak 7 - N : Teknik Industri)
Ketersediaan
#
R. Majalah
JURNAL
47569.1
Tersedia namun tidak untuk dipinjamkan - Tidak Dipinjamkan
Informasi Detail
| Judul Seri |
-
|
|---|---|
| No. Panggil |
JURNAL
|
| Penerbit | Pusat Kaj. Teknologi Industri Sultan Agung : Semarang., 2006 |
| Deskripsi Fisik |
hal. 143-151.: ilus.; 25 cm; hal. 150-151
|
| Bahasa |
Inggris
|
| ISBN/ISSN |
1411-366X
|
| Klasifikasi |
-
|
| Tipe Isi |
-
|
| Tipe Media |
-
|
|---|---|
| Tipe Pembawa |
-
|
| Edisi |
-
|
| Subjek | |
| Info Detail Spesifik |
-
|
| Pernyataan Tanggungjawab |
ROFI'I, Imam
|
Versi lain/terkait
Tidak tersedia versi lain
Informasi
Akses Katalog Publik Daring - Gunakan fasilitas pencarian untuk mempercepat penemuan data katalog